新型膜厚控制仪器1
CDNY-06AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术,因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。
新型自动校准复合真空计1
NYGF-Ⅲ复合真空计是采用微处理器技术和超大规模集成电路CPLD相结合的真空测量智能仪器,具有自动化程度高、稳定、高可靠性、强抗干扰能力等特性。仪器一经启动,无需值守,能长期工作,连续测量并进行实时监控,是生产、科研中理想的真空测量仪器。
铁水碳硅分析仪
测量范围:碳当量3.2~4.8±0.2%   碳含量2.8~4.2±0.08%    硅含量0.9~3.0±0.2%
低价供应E+H 流量仪表
低价供应E+H 流量仪表 Endress+Hauser(恩德斯豪斯,简称E+H公司)是一家世界著名的国际性集团公司。 Endress+Hauser测量及自动化仪表广泛应用于世界各地的各种工业领域。为了帮助用户获取佳的过程控制结果,Endress+Hauser开发和制造了各种
露点仪
EN-7660型智能露点仪采用原装进口检测器和微处理机技术,具有大屏幕LCD显示、上下限报警、标准信号输出、继电器触点报警输出及自检、自修正等功能;可直接测量常压露点和绝对水份(PPm)。 仪器的检测部件原装进口,具有防冷凝、抗灰尘颗粒、不受油气、大多数化学气体
食品安全快速检测仪
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